Il-mikroskopija elettronika li tiskennja (scanning electron microscopy, SEM) hija metodu ta' riżoluzzjoni għolja t'immaġini tas-superfiċje ta' kampjun li tiġi skennjata b'raġġ iffokat ta' elettroni.
L-elettroni jinteraġixxu mal-atomi tal-materjali, jipproduċu sinjali li jkun fihom informazzjoni dwar it-topografija u l-għamla fuq is-superfiċje tal-materjal.