A pásztázó elektron-mikroszkópia (SEM) egy minta felületének egyik nagy felbontású képalkotó módszere, amely elektronok fókuszált sugarával pásztázza a minta felületét.
Az elektronok az anyagok atomjaival kölcsönhatásba lépnek, az anyag felületének topográfiájáról és összetételéről információkat tartalmazó jeleket létrehozva.