Pyyhkäisyelektronimikroskopia (SEM) on menetelmä, jolla saadaan näytteen pinnalta korkearesoluutioista kuvaa, kun siihen suunnataan pyyhkäisemällä keskitetty elektronisäde.
Electronit ovat vuorovaikutuksessa materiaalien atomien kanssa, tuottaen signaaleja, jotka sisältävät informaatiota materiaalin pinnan topografiasta ja koostumuksesta.