Die Rasterelektronenmikroskopie (SEM) ist eine Methode für die Darstellung in hoher Auflösung von Bildern einer Musteroberfläche, indem man das Bild mit einem fokussierten Strahl von Elektronen scannt.
Die Elektronen interagieren mit Atomen der Materialien, indem sie Signale erzeugen, die Informationen über die Topographie und Zusammensetzung der Materialoberfläche enthalten.